可控硅，又名晶闸管，是一种关键的半导体开关元件，广泛应用于调光、调速、控温等电路中。当设备出现故障时，判断可控硅是否损坏是常见的检修步骤。下面介绍两种简单实用的方法，无需复杂仪器，仅用一块万用表即可完成。
核心原理： 可控硅可以看作是由一个PNP和一个NPN晶体管组合而成的特殊器件。它有三个电极：阳极（A）、阴极（K）和门极（G）。其关键特性是一旦触发，即可自锁导通，除非阳极电流中断。
方法一：使用万用表电阻档（粗测法）
这是最常用的初步判断方法，可以快速筛选出明显击穿或断路的坏件。
识别引脚： 参考器件数据手册或用万用表二极管档大致判断出阳极（A）、阴极（K）和门极（G）。
测量极间电阻，初步判断：
A-K 间电阻： 用万用表高阻档（如R×1k）测量阳极与阴极间的正反向电阻。正常的可控硅，无论表笔如何接，阻值都应为无穷大（∞）。如果阻值很小或为零，说明器件已击穿短路。
G-K 间电阻： 用低阻档（如R×10）测量门极与阴极间的电阻。这是一个PN结，正常情况下的正反向电阻值应有明显差异（正向几十到几百欧姆，反向略大）。如果正反向电阻都为零或无穷大，则说明门极已损坏。
小结： 如果A-K间短路或G-K间开路/短路，基本可以判定可控硅已损坏。
方法二：使用万用表电池触发（功能测试法）
这个方法可以更准确地测试可控硅的触发导通和维持导通功能，是判断其好坏的决定性步骤。
所需工具： 万用表（电阻档或二极管档）、一节5号电池（或另一块万用表）。
操作步骤（以单向可控硅为例）：
搭建测试电路：
将万用表拨至电阻档（R×1）或二极管档，此时万用表相当于一个电源。
将黑表笔（表内电池正极）接阳极（A），红表笔（表内电池负极）接阴极（K）。此时，由于可控硅未触发，万用表显示应为无穷大（不导通）。
触发测试：
用一根导线或另一块万用表的表笔，瞬间短接一下门极（G）和阳极（A）（即给G一个正触发信号）。
观察现象： 如果可控硅是好的，在触发瞬间，万用表读数会立即从无穷大变为一个很小的阻值（或二极管档显示导通电压），这表明可控硅已被成功触发并导通。
维持导通测试（验证自锁）：
在可控硅导通后，断开门极（G）上的触发信号。
观察现象： 好的可控硅会继续保持导通状态，万用表读数不变。这说明它具备了“自锁”能力。
关断测试：
断开阳极（A）或阴极（K）的连线，模拟阳极电流中断。再次接上后，可控硅应恢复关断状态，万用表显示无穷大。
结果判断总结表：

测试步骤	正常现象	损坏现象（判定为坏）
初始状态 (A-K加电)	阻值无穷大 (不导通)	阻值很小 (已击穿短路)
触发瞬间 (G加正信号)	立即导通，阻值变小	无反应，仍不导通 (触发极损坏或内部开路)
维持导通 (撤掉G信号)	保持导通状态 (自锁)	立即关断 (无法维持，性能不良)

注意： 对于双向可控硅（TRIAC），测试方法更为复杂，需要分别在两个方向进行触发测试，但其核心原理相通。
总结： 结合“方法一”的静态测量和“方法二”的动态功能测试，您可以快速、准确地判断出绝大多数单向可控硅的好坏，大大提高电子维修的效率。